無損檢測是發(fā)現(xiàn)安全隱患最直接且有效的方法之一。最大特點是不會破壞被測物體，且靈敏度高，可以探測肉眼無法觀察的細(xì)小缺陷及內(nèi)部缺陷。

• 在制造壓力容器階段。

• 使用后，定期安全檢查。

• 改進(jìn)生產(chǎn)工藝時，了解制作工藝是否適宜。

利用聲、光、磁和電等特性，在不損害或不影響被檢對象使用性能的前提下，檢測其是否存在缺陷，并給出缺陷的大小、位置、性質(zhì)和數(shù)量等信息，由此，進(jìn)行判定被檢對象的技術(shù)狀態(tài)，即是否合格、剩余壽命等。

磁化試件后，試件的缺陷處會吸引磁粉，由此，我們便可觀察到細(xì)微的缺陷。

鐵磁性材料在磁化后內(nèi)部產(chǎn)生很強的磁感應(yīng)強度，磁力線密度增大幾百倍到幾千倍，如果材料中存在不連續(xù)（主要包括缺陷造成的不連續(xù)性和結(jié)構(gòu)、形狀、材質(zhì)等原因造成的不連續(xù)性），磁力線會發(fā)生畸變，部分磁力線就有可能溢出材料表面，從空間穿過，形成漏磁場，漏磁場的局部磁極能夠吸引鐵磁物質(zhì)。

• 適宜鐵磁材料檢測，不能用于非鐵磁材料檢測。

• 可以檢出表面和近表面缺陷，不能用于檢查內(nèi)部缺陷。

• 檢測靈敏度很高，可以發(fā)現(xiàn)極細(xì)小的裂紋以及其他缺陷。

• 檢測成本低，速度快。

• 工件的形狀和尺寸有時對檢測有影響，因此難以磁化而無法檢測。

  
  

通過測量構(gòu)件磁化狀態(tài)來推斷其應(yīng)力集中區(qū)。

壓力容器在運行過程中受介質(zhì)、壓力和溫度等因素的影響，易在應(yīng)力集中較嚴(yán)重的部位產(chǎn)生應(yīng)力腐蝕開裂、疲勞開裂和誘發(fā)裂紋，在高溫設(shè)備上還容易產(chǎn)生蠕變損傷。

同樣是利用漏磁場原理，采用磁記憶檢測儀對壓力容器焊縫進(jìn)行快速掃查，從而發(fā)現(xiàn)焊縫上存在的應(yīng)力峰值部位。

可準(zhǔn)確探測出應(yīng)力集中區(qū)

利用地磁場直接磁化，不需專門的磁化設(shè)備。

不需對被檢設(shè)備表面進(jìn)行清理。

在壓力容器的檢測中，應(yīng)用比較廣泛的射線檢測是射線照相法。

用X射線或γ射線穿透試件，探測缺陷，并通過膠片記錄。

眾所周知，X射線和γ射線具有很強的穿透能力，照在物體上時，僅僅會有一部分能量被物體吸收掉，大部分可以透過物體，該測試正是利用這一特性，即到達(dá)膠片上射線的量的差異，形成黑白不同的影像。

密度高的地方，射線被吸收的多，照片上呈白影。反之，密度低的地方，射線被吸收的少，照片上呈黑影。

• 檢測焊縫內(nèi)部埋藏的缺陷。

• 對于超聲檢測發(fā)現(xiàn)的缺陷，一般會用射線進(jìn)行復(fù)檢。

• 對體積型缺陷（如氣孔、夾渣等）檢出率很高。

• 對面積型缺陷（如裂紋、未熔合等）如照相角度不適當(dāng)，容易漏檢。

• 適宜檢驗對接焊縫。

• 檢驗角焊縫效果較差。

• 不適宜檢驗板材、棒材、鍛件等。

通常X射線檢測厚度較小的壓力容器，用γ射線檢測人體不能進(jìn)入的多層包扎的壓力容器和球形的壓力容器。

• 可以獲得缺陷的直觀圖像，定位準(zhǔn)確。

• 檢測結(jié)果可直接記錄，可長期保存。

在壓力容器的檢測中，應(yīng)用比較廣泛的超聲檢測是脈沖發(fā)射法。

向試件發(fā)射超聲波，當(dāng)超聲波遇到不同介質(zhì)交界面會產(chǎn)生反射，根據(jù)回波來檢測缺陷情況。

超聲波是一種高頻聲波，波長比一般聲波要短。當(dāng)超聲波從一種介質(zhì)入射至另一聲阻抗不同的介質(zhì)時（聲阻抗即通過介質(zhì)遇到的阻力），兩種介質(zhì)的界面會產(chǎn)生反射現(xiàn)象。就是利用超聲波的這一現(xiàn)象實現(xiàn)了脈沖發(fā)射法。

• 用于檢測焊縫內(nèi)部埋藏缺陷、焊縫內(nèi)表面裂紋、壓力容器鍛件及高壓螺栓可能出現(xiàn)裂紋。

• 與上面提到的射線檢測相反，超聲檢測對于面積型的缺陷（如裂紋、未熔合等）檢出率更高。

• 對體積型缺陷（如氣孔、夾渣等）檢出率比較低（焊縫薄的除外）。

• 適宜檢驗厚度較厚的工件。

• 檢驗成本低、速度快，檢測儀器體積小、重量輕，現(xiàn)場使用比較方便。

• 無法得到缺陷直觀圖像、定位困難、定量精度不高。

• 檢驗結(jié)果無直接見證記錄。

還有一種超聲檢驗的一種超聲檢測的常見方法。 

聲波經(jīng)過缺陷時，產(chǎn)生衍射波，收集衍射波的傳播時間，從而計算出缺陷尺寸和位置

在不連續(xù)缺陷的尖端產(chǎn)生波形的轉(zhuǎn)換，當(dāng)它轉(zhuǎn)換后產(chǎn)生衍射波，這個衍射波覆蓋了較大的角度范圍，那么衍射波就會檢測出所存在的缺陷，記錄信號的飛越時間就可以測量出缺陷的高度，那么就可以對缺陷就行定量，缺陷尺寸通常是被定義為衍射信號的飛越時間差，信號波幅與缺陷定量沒關(guān)系。

• 可以識別向表面延伸的缺陷。

• 對缺陷垂直方向的定量和定位非常精準(zhǔn)。

• 能夠發(fā)現(xiàn)各種類型的缺陷，對缺陷的走向不敏感。 

• 對缺陷定性、橫向缺陷檢出、粗晶材料檢出比較困難。

• 對復(fù)雜幾何形狀的工件比較難測量。

• 不適合于T型焊縫檢測。

• 一次掃描幾乎能夠覆蓋整個焊縫區(qū)域，可以實現(xiàn)非常高的檢測速度。

• 檢測率很高，容易檢出方向性不好的缺陷。

• 和脈沖反射法相結(jié)合時檢測效果更好，覆蓋率100％。

• 近表面存在盲區(qū)，對該區(qū)域檢測可靠性不夠。

  
  

將液體滲透液滲入工件表面開口缺陷中，用去除劑清除多余滲透液后，用顯像劑表示出缺陷。

元件表面被施涂含有熒光染料或著色染料的滲透液后，在毛細(xì)管作用下，經(jīng)過一定時間，滲透液可以滲進(jìn)表面開口的缺陷中。經(jīng)去除元件表面多余的滲透液后，再在元件表面施涂顯像劑，同樣，在毛細(xì)管作用下，顯像劑將吸引缺陷中保留的滲透液，滲透液回滲到顯像劑中，在一定的光源下，缺陷處的滲透液痕跡被顯示，從而探測出缺陷的形貌及分布狀態(tài)。

• 可應(yīng)用于磁粉檢測無法應(yīng)用到的部位。

• 不能用于檢測疏松多孔性的材料。

• 可以檢測出表面開口的缺陷，但對埋藏缺陷或閉合型的表面缺陷無法檢出。

• 操作簡單成本低，缺陷顯示直觀。

• 對于同時存在幾個方向缺陷的試件，一次操作就可大致做到全面檢測。

• 元件表面光潔度對測試結(jié)果影響大。

• 操作人員水平對測試結(jié)果影響也比較大。

• 檢測靈敏度比磁粉檢測低。

材料在受到外力或者內(nèi)力作用時，產(chǎn)生變形或斷裂，這時，材料會釋放出彈性波。聲發(fā)射檢測通過收集并分析這些彈性波，從而判斷容器內(nèi)部結(jié)構(gòu)的損傷程度。

可以實時檢測容器狀態(tài)，對缺陷變化極為敏感。

聲發(fā)射檢測不受材料限制。

可以長期連續(xù)地監(jiān)視缺陷的安全性和超限報警。

無損檢測的最大優(yōu)點就是檢測時，不會損壞被檢對象的材質(zhì)、結(jié)構(gòu)。但是，無損檢測也有其自身的局限性，比如破壞性檢測是無損檢測不可替代的。通常，我們會把無損檢測的結(jié)果與破壞性實驗的結(jié)果互相配合，做出最準(zhǔn)確的。